小形放射温度計 IR-BZNシリーズは追従性が必要な装置や生産ラインの温度変化を確実に捉える高速応答性を備えています。コンパクトサイズなので設置スペースをとらず装置組み込みに適しています。同軸LED照準で位置合わせも簡単にできます。
0～500℃の測定対象を1msの高速応答で測定。測定スポットのサイズを小さくした小径仕様で微小な測定対象の温度変化も測定可能。
IR-BZシリーズは計測性能を重視した基本設計により、輻射熱等による検出部の急激な温度変化や高温環境において高精度で安定した測定が可能です。
| 機種 | 高速形 |
|---|---|
| 形式 | IR-BZN |
| 検出素子 | InSb |
| 測定波長 | 2～6.8μm |
| 測定温度範囲 | 0～500℃ |
| 精度定格 | 300℃未満：±3.0℃ 300℃以上：測定値の1.0％ |
| 再現性 | 0.5℃以内 |
| 分解能 | 50℃未満：1.5℃ 50℃以上：0.7℃ |
| 応答時間 | 1ms（95％応答） |
| 測定径/測定距離 | φ3.5/100mmまたはφ7.0/200mm |
| 照準 | LED（点灯、消灯は設定表示器または通信で設定可能） |
| 出力信号 | 4～20mA, 不可抵抗500Ω以下（非絶縁） |
| 通信インターフェイス | RS-485（非絶縁） |
| 電源 | 24V DC, 設定表示器から供給可能 |
| 外形寸法 | W24xH35xD72.5mm |
チノー放射温度計の製品セレクションガイドです。
半導体の前工程の「温度計測・制御」に関わる製品や、これらの製品を組み合わせたシステム提案までいたします。
「インゴット引き上げ」「ウエハの研磨・酸化」「エッチング」「成膜」の工程における温度計測・制御のほか、「超電導」「人工ダイヤモンド」「150℃まで耐えうるサーモグラフィー」に関するソリューションをご紹介します。
IR-BZNは高速、小径の製造プロセス用途に向き、追従性が求められる装置や生産ラインの変化を確実に捉えます。
IR-BZN
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