IRMS8599Bは測定対象の薄膜に投光し、表面反射光と裏面反射光による干渉から膜厚を測定します。
半導体・液晶パネル・太陽電池・LEDパネル・塗工などの製造プロセスに適しています。
USB通信を搭載しています。
USB接続仕様です
| 名称 | 光干渉式膜厚計 |
|---|---|
| 形式 | IRMS8599B |
| 測定方法 | 可視近赤外連続分光方式 |
| 測定範囲 | 20nm～50μm |
| 測定波長域 | 0.4～1.0μm |
| 測定距離／径 | 10～80mm／φ20mm（平行光鏡筒） 18mm／φ2mm（収束光鏡筒） |
| 測定間隔 | 10～10000ms |
| 光源 | タングステンランプ |
| ファイバ | 二分岐バンドルファイバ |
| 通信 | USB 1.1 ※ケーブル長：最長5ｍ |
| 表示 | PC演算表示 |
| 使用温度範囲 | 0～50℃ |
| 電源 | 24V DC （電源ユニットIR-WEPより供給。電源ユニット：100～240V AC、47～450Hz対応） |
| 消費電力 | 最大60VA |
| 質量 | 約5.6 kg |
| 取付方法 | ボルト吊り下げ方式（M8ボルト4本） |
| ケース | アルミ鋳物 |
| 保護構造 | 防塵防滴構造（IP65） |
※ファイバ、ケーブル、アクセサリ関係は別売りです。
